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納米粒度分析儀

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產(chǎn)品名稱: 納米粒度分析儀
產(chǎn)品型號: SD-NANOTRAC FLEX
產(chǎn)品展商: 圣達(dá)儀器
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡單介紹

NANOTRAC FLEX 納米粒度分析儀采用全新的動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)(DLS),引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念,快速準(zhǔn)確地得到被測體系的納米粒度分布,外置固定式光學(xué)探頭滿足任何應(yīng)用需求。


納米粒度分析儀  的詳細(xì)介紹

真正的180° 動(dòng)態(tài)光背散射測量技術(shù)

探頭設(shè)計(jì)可以實(shí)現(xiàn)只需要一滴液體滴在探頭的頂部進(jìn)行測量(圖1), 這樣測量只需*小的樣品量2μl。探頭同時(shí)也適合1.5mL Eppendorf 管(圖2)。對于NANOTRAC FLEX 來說,每個(gè)容器都可以用作測量池(圖3),不需要任何的比色皿。NANOTRAC FLEX 的探頭設(shè)計(jì)可以實(shí)現(xiàn)在一個(gè)反應(yīng)過程中離線或在線監(jiān)測顆粒的粒徑變化。在反應(yīng)中,分散相通常處于是流動(dòng)或攪拌中, 分散相的運(yùn)動(dòng)將會(huì)掩蓋布朗運(yùn)動(dòng),在這種情況下用DLS測量幾乎不可能的,為了測量攪拌中或流動(dòng)的液體,Microtrac研發(fā)了一款FlowGuard探頭(圖4),F(xiàn)lowGuard探頭是在原來的探頭周圍加了PTFE 外殼, 它可以防止測量表面受到湍流的影響,外殼上孔口能夠確保樣品不停的交換,在探頭的界面處同時(shí)減緩攪拌的運(yùn)動(dòng)速度。這種設(shè)計(jì)確保測得懸浮液粒度分布的準(zhǔn)確性和代表性。NANOTRAC  FLEX探頭在測量任何類型樣品時(shí)都非常容易和快速的清洗。


1.png

此款納米粒度儀可以配合剛上市的Zeta電位分析儀STABINO ZETA使用,能夠?qū)崿F(xiàn)不同溶液環(huán)境下的粒度測量以及Zeta電位測量。通過自動(dòng)滴定的方式能夠快速的對不同配方的穩(wěn)定性進(jìn)行評價(jià),主要應(yīng)用如下:

· pH滴定

- 確定等電點(diǎn) 

- 確定穩(wěn)定的pH區(qū)間

· 聚電解質(zhì)滴定

-穩(wěn)定性

-表面電荷密度/總的電荷量

· 鹽滴定

-Zeta電位和穩(wěn)定性

· 分散劑的滴定

- 優(yōu)化分散劑用來

· 制劑配方

- 用添加物滴定

組合圖.png

兩者既可以合在一起使用也可以分開單獨(dú)使用




產(chǎn)品參數(shù)


測量范圍 0.3nm-10μm
*小樣品量 2 μl
樣品濃度 <40 vol.%
具有濃度測量功能 ?
實(shí)驗(yàn)室/在線測量 ?



 





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